本發(fā)明涉及一種珍珠珠層厚度的無損測量裝置及方法,該裝置由太赫茲時域光譜系統(tǒng)主機(jī)、太赫茲發(fā)射探頭、太赫茲接收探頭、珍珠測試平臺等組成,其中,上述主機(jī)用于實(shí)現(xiàn)太赫茲時域波形測量功能;太赫茲發(fā)射探頭用于產(chǎn)生脈沖太赫茲波,并聚焦入射至待測珍珠;太赫茲接收探頭用于采集被待測珍珠反射回來的太赫茲時域波形信號,該波形信號中包含太赫茲波分別在珍珠外表面和內(nèi)部珠核界面反射形成的反射峰,通過測算兩個反射峰的時間間隔,即可測算得到珍珠層的厚度。本發(fā)明的顯著技術(shù)優(yōu)勢為:能夠在無損條件下測得珍珠層的厚度,精度可達(dá)到微米量級,并且對操作人員無輻射傷害。本發(fā)明可應(yīng)用于珍珠的質(zhì)量評價。
聲明:
“珍珠珠層厚度的無損測量裝置及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)