本發(fā)明公開了一種梨樹葉片氮素含量的無損測量方法,使用光譜儀原位測定梨樹葉片的可見和近紅外光譜后采下葉片測定氮素含量;采用主成分分析法剔除異常樣本后用偏最小二乘回歸建立校正模型并采用留一法交叉驗證形式進行檢驗,從而得到定量校正模型;該模型可以測定未知梨樹葉片氮素含量。本發(fā)明方法可以快速、無損、廉價地得到梨樹葉片氮素含量。并通過一定數(shù)量的葉片氮素含量評估樹體氮素營養(yǎng)狀況,本發(fā)明方法不需要化學(xué)試劑、無損和操作簡單。
聲明:
“梨樹葉片氮素含量的無損測量方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)