一種超聲信號(hào)頻譜濾波技術(shù)無損測量涂層厚度的方法，屬于超聲無損檢測技術(shù)領(lǐng)域。該方法將超聲入射聲壓P入(x0)對(duì)反射聲壓P反(x1)做歸一化處理，得到涂層的歸一化聲壓反射系數(shù)R(x1-x0)，采用頻譜分析技術(shù)將R(x1-x0)展開為復(fù)數(shù)形式的傅立葉級(jí)數(shù)，并分離為獨(dú)立的實(shí)部函數(shù)Real(f)與虛部函數(shù)Imag(f)。對(duì)加窗處理得到的有效頻帶內(nèi)實(shí)部函數(shù)Vreal(f)做傅里葉變換得到其功率譜M(τ)，依據(jù)功率譜各個(gè)極大值出現(xiàn)位置選擇FFT濾波帶寬，依次對(duì)Vreal(f)進(jìn)行濾波得到一系列余弦函數(shù)，讀取余弦函數(shù)的周期并計(jì)算出超聲波在各涂層中的傳播聲時(shí)ti，進(jìn)而結(jié)合涂層縱波聲速實(shí)現(xiàn)涂層厚度的表征。該方法不受材料屬性、工藝環(huán)境的影響，克服了常規(guī)超聲法時(shí)域發(fā)生混疊、頻譜諧振頻率難以辨識(shí)的問題，解決了多層涂層超聲測厚的難題。