本實(shí)用新型公開了一種掃描樣品無損檢測多極激勵場發(fā)生裝置,激勵線圈的磁芯采用4片具有高磁導(dǎo)率的坡莫合金(1J85)葉片對接制成,每只葉片為U型,夾角為90°,所述葉片包括底邊、豎邊和橫邊,底邊和豎邊相互垂直,橫邊與豎邊的夾角為120°~160°,4片橫邊的頂端之間間隔適當(dāng)距離;所述葉片之間相互絕緣,葉片的底邊和豎邊上纏繞有
漆包線,相鄰兩個葉片的上的漆包線纏繞方向相反。本實(shí)用新型采用四極激發(fā)線圈代替雙D型線圈,能夠測量較深的缺陷,并且還具有如下優(yōu)點(diǎn):①場隨空間衰減更快,所以噪聲小;②在SQUID器件處更易平衡;③只需要一個磁強(qiáng)計(jì)(省去了梯度計(jì))即可,使器件工藝大大簡化。
聲明:
“掃描樣品無損檢測多極激勵場發(fā)生裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)