本發(fā)明公開了一種基于高光譜空間散射曲線的蘋果硬度無損檢測方法,包括步驟:樣本的選取;高光譜數(shù)據(jù)的采集;硬度的標準值的測定;對高光譜數(shù)據(jù)的處理;硬度預測模型的建立和評價。本發(fā)明的技術(shù)方案通過獲取攜帶蘋果內(nèi)部組織(與蘋果的硬度直接相關)信息的高光譜空間散射曲線得到空間散射曲線的擬合參數(shù),利用該參數(shù)建立硬度預測模型,從而能夠利用該模型實現(xiàn)對蘋果硬度的檢測。
聲明:
“基于高光譜空間散射曲線的蘋果硬度無損檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)