本發(fā)明是一種基于超聲平面波成像和時間反轉(zhuǎn)算子相結(jié)合的高分辨缺陷無損檢測方法。本發(fā)明通過超聲線性相控陣向被測工件發(fā)射一組平面波,利用超聲相控陣采集各個平面波的反射回波數(shù)據(jù),對回波數(shù)據(jù)進(jìn)行時域濾波,濾除信號中的隨機噪聲;通過邊緣提取方法取出掃描圖像中各個缺陷的邊緣信息,作為被測工件內(nèi)部缺陷的基本信息,基本信息包括缺陷的位置信息、形狀信息和大小范圍信息;利用時間反轉(zhuǎn)算子的特征向量對缺陷信號進(jìn)行自動聚焦,在得到的各塊缺陷區(qū)域進(jìn)行精確成像,對整個被測工件缺陷的進(jìn)行精確定位。
聲明:
“基于超聲平面波成像和時間反轉(zhuǎn)算子相結(jié)合的高分辨缺陷無損檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)