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用于電子封裝器件紅外熱成像無損檢測的實驗裝置

856   編輯:管理員   來源:中冶有色技術(shù)網(wǎng)  
2023-03-19 08:57:55
本實用新型為一種用于電子封裝器件紅外熱成像無損檢測的實驗裝置,由紅外熱像儀夾持部分和待測試樣載臺兩部分組成。所述紅外熱像儀夾持部分由底座、固定螺栓、立柱、緊固螺栓、頂架、手柄、螺桿、活動支架、熱像儀組成;紅外熱像儀夾持部分能夠?qū)崿F(xiàn)熱像儀在垂直方向上拍攝,并能夠上下自由活動,且裝置穩(wěn)定安全;試樣載臺部分用于固定待測試樣的卡座采用高低卡座設(shè)計,滿足了不同尺寸待測試樣的實驗要求;三維移動臺的螺栓上標(biāo)有刻度,扭動螺栓可以實現(xiàn)待測試樣在三維方向上定量移動,有利于保障實驗測量精度。本實用新型裝置穩(wěn)固,操作簡單,能夠?qū)崿F(xiàn)待測試樣的三維定量移動。
聲明:
“用于電子封裝器件紅外熱成像無損檢測的實驗裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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