本發(fā)明提出一種太陽電池旁路二極管參數(shù)無損檢測方法,能夠在非破壞的情況下獲取太陽電池旁路二極管參數(shù)。該檢測方法包括以下步驟:1)在無光照條件下,對太陽電池樣品進行測試,獲取其負IV曲線;2)建立太陽電池的等效電路模型,得到太陽電池樣品在無光照條件下的負IV曲線模型;3)根據(jù)實測的負IV曲線對建立的負IV曲線模型的參數(shù)進行優(yōu)化,對IV曲線進行擬合;4)優(yōu)化后的負IV曲線模型中即可體現(xiàn)所要檢測的旁路二極管D
sh的參數(shù)值。本發(fā)明具有原理簡單可靠、效率高、成本低、保留樣品完整性的特點,其結(jié)果可以用于太陽電池損傷測試中,對太陽電池損傷效應分析提供重要數(shù)據(jù)支持。
聲明:
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