本發(fā)明涉及了一種鈍感發(fā)射藥包覆層厚度無損檢測方法:步驟一、獲得鈍感發(fā)射藥藥柱的二維DR數(shù)據(jù);步驟二、獲得藥柱的CT切面圖;對獲得的CT切面圖進行表面處理和對比度調(diào)節(jié);步驟三、從XY方向的所有CT切面圖中選取一張或兩張CT切面圖,對選取的CT切面圖選取多個采樣點;步驟四、從XZ或者從YZ方向所有CT切面圖中選取沿直徑方向的兩張切面圖,布置多個采樣點;步驟五、對布局的每個采樣點上的包覆層厚度進行測量,計算得到鈍感發(fā)射藥的包覆層厚度的平均值及分布范圍。本發(fā)明解決了鈍感發(fā)射藥包覆層厚度無損檢測方法缺失的技術(shù)問題,從而為鈍感發(fā)射藥的包覆工藝參數(shù)、包覆層厚度與燃燒漸增性的相關(guān)性研究提供依據(jù)。
聲明:
“鈍感發(fā)射藥包覆層厚度無損檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)