本發(fā)明提供一種基于X射線的金屬表面滲層厚度無(wú)損檢測(cè)裝置及方法,裝置包括X射線發(fā)生器、X射線檢測(cè)器、放大器、數(shù)據(jù)處理存儲(chǔ)模塊和顯示器;方法首先制作具有不同滲層厚度的樣件,利用裝置計(jì)算得到樣件的滲層元素含量,并通過(guò)掃描電鏡方式對(duì)樣件滲層厚度進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量,建立滲層元素含量與滲層厚度對(duì)應(yīng)數(shù)據(jù)表;其次采用裝置獲取待檢測(cè)試件滲層元素含量,在預(yù)先標(biāo)定好的滲層元素含量與滲層厚度對(duì)應(yīng)數(shù)據(jù)表中插值解算得到待檢測(cè)試件滲層厚度。本發(fā)明相比于現(xiàn)有滲層檢方法,能夠在不破壞試件的情況下快速檢測(cè)得到擴(kuò)散滲鋁層的滲層厚度,可實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品全檢,大幅提高了工作效率。
聲明:
“基于X射線的金屬表面滲層厚度無(wú)損檢測(cè)裝置及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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