本實用新型涉及一種基于矩陣分解的微波熱成像無損檢測系統(tǒng),包括微波激勵裝置和熱成像監(jiān)測裝置;微波激勵裝置包括微波信號發(fā)生器、微波信號放大器、微波激勵傳感器和吸波材料;熱成像監(jiān)測裝置包括熱像儀、數(shù)據(jù)采集處理裝置;數(shù)據(jù)采集處理裝置分別與微波信號發(fā)生器和熱像儀連接,從而獲得被測物的溫度變化數(shù)據(jù)。該基于矩陣分解的微波熱成像無損檢測系統(tǒng)能夠解決對不同類型缺陷進行快速成像和分離,突出缺陷范圍熱空間模式特征提取,解決了鄰近缺陷由于溫度混疊無法定位、分離和亞表面缺陷損傷面積難以有效量化問題;解決了對缺陷的自動分離問題,能對不同能量的撞擊缺陷和損傷面積進行快速成像。
聲明:
“基于矩陣分解的微波熱成像無損檢測系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)