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基于高光譜成像的蘋果表面損傷快速無損檢測方法

924   編輯:管理員   來源:中冶有色技術(shù)網(wǎng)  
2023-03-19 08:57:49
本發(fā)明公開了一種基于高光譜成像的蘋果表面損傷快速無損檢測方法,具體涉及水果品質(zhì)無損檢測技術(shù)領(lǐng)域。該方法是首先利用高光譜成像光譜儀采集損傷蘋果的光譜圖像,然后對光譜圖像進(jìn)行校正,再利用ENVI獲取圖像上完好與損傷區(qū)域的平均光譜曲線,分析光譜特性,再利用多元散射校正法對光譜數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)處理,其次,利用二次連續(xù)投影算法分析光譜數(shù)據(jù),篩選特征波段,并對特征波段圖像進(jìn)行掩膜處理,去除背景干擾,再進(jìn)行主成分分析確定完好與損傷區(qū)域差異明顯的有效檢測圖像,最后采用固定閾值法分割出損傷區(qū)域,分割圖像中依然存在因光照影響而誤分的小面積區(qū)域,再利用圖像的膨脹、腐蝕和刪除小面積區(qū)域操作來實(shí)現(xiàn)損傷區(qū)域的精確分割。
聲明:
“基于高光譜成像的蘋果表面損傷快速無損檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
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