本發(fā)明涉及一種無損檢測梨的硬度方法,通過可見-近紅外波段的高光譜成像系統(tǒng)測得多個(gè)不同種類的梨的高光譜圖像,再通過黑白版校正,將高光譜圖像中每一點(diǎn)的光譜響應(yīng)強(qiáng)度轉(zhuǎn)換成統(tǒng)一的0-100%的反射率圖像,再通過Labview軟件對(duì)圖像的亮度進(jìn)行提取和著色,將不同的亮度區(qū)域區(qū)分開,然后在同一顏色區(qū)域選取10個(gè)不同的點(diǎn)求平均代表整個(gè)梨的反射率,結(jié)合梨的反射率曲線提取每一波段的反射率信息通過PCA提取特征波段,通過國家標(biāo)準(zhǔn)方法測得的梨的硬度的實(shí)際值,再用PLS算法建立回歸模型,得到各種類梨的回歸方程,根據(jù)回歸方程,便可通過測量所測梨的光譜圖,計(jì)算出所測梨的硬度??梢詮V泛應(yīng)用于梨的質(zhì)量檢測,檢測過程,方便、快捷、無損、準(zhǔn)確。
聲明:
“無損檢測梨的硬度方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)