本發(fā)明公開了一種復(fù)合絕緣子缺陷無損檢測(cè)設(shè)備,該設(shè)備包括:微波源,用于提供微波信號(hào);波導(dǎo)管,用于將所述微波源提供的微波信號(hào)傳導(dǎo)至待測(cè)物件;耦合探頭,用于發(fā)射入射信號(hào)以及收錄被測(cè)物件的反射信號(hào),并將所述入射信號(hào)和反射信號(hào)分離并傳送至接收機(jī);接收器,用于收集被測(cè)物件的透射信號(hào)并傳送至接收機(jī)。所述微波源提供的微波信號(hào)為可變頻的微波信號(hào),頻率范圍為4?30GHz,步進(jìn)間隔為0.1MHz;所述復(fù)合絕緣子缺陷無損檢測(cè)設(shè)備包括至少兩個(gè)不同規(guī)格的波導(dǎo)管。本發(fā)明能夠準(zhǔn)確地檢測(cè)出復(fù)合絕緣子內(nèi)部的缺陷情況,同時(shí)由于掃頻特性,檢測(cè)結(jié)果能夠進(jìn)一步地對(duì)缺陷的尺寸進(jìn)行分析和判斷,更具有普適性。
聲明:
“復(fù)合絕緣子缺陷無損檢測(cè)設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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