本發(fā)明公開了一種基于時間閘門的脈沖渦流無損檢測方法,是將陣列渦流傳感器貼近構(gòu)件表面的一個陣列區(qū)域進(jìn)行掃描檢測,且由任意波形發(fā)生器分別向各陣列點位置的渦流傳感器的激勵繞組施加一個預(yù)置的具有一定頻率的脈沖激勵信號,該脈沖激勵信號在構(gòu)件中所產(chǎn)生的渦流感應(yīng)信號由各陣列點位置的渦流傳感器的檢測繞組分別拾取,利用時間閘門方式提取各陣列點位置渦流傳感器的渦流感應(yīng)信號的幅值數(shù)據(jù),再通過計算陣列區(qū)域內(nèi)陣列點位置的渦流傳感器的渦流感應(yīng)信號的相對幅值,以及對相對幅值進(jìn)行灰度處理后,使得成像后的被測構(gòu)件的掃描區(qū)域能夠直觀地顯示出被測構(gòu)件的缺陷狀態(tài),具有檢測方便、易實現(xiàn),檢測效果準(zhǔn)確的優(yōu)點。
聲明:
“基于時間閘門的脈沖渦流無損檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)