本發(fā)明涉及無損檢測(cè)領(lǐng)域,具體的說是一種遠(yuǎn)紅外納米陶瓷
復(fù)合材料無損檢測(cè)方法及其設(shè)備,包括基板、支撐腳、擠壓機(jī)構(gòu)、檢測(cè)機(jī)構(gòu)、定位機(jī)構(gòu)和氨合成塔,本發(fā)明對(duì)于在高溫、高壓、臨氫的環(huán)境下,采用聲發(fā)射技術(shù)對(duì)材料損傷過程進(jìn)行檢測(cè),針對(duì)氨合成塔外壁材料的工作環(huán)境,模擬氫原子滲透及穿透材料的遷移過程,考察了氫原子在缺口位置的富集對(duì)材料缺口敏感性的影響,根據(jù)缺口位置氫原子的濃度對(duì)位錯(cuò)發(fā)射及材料韌脆轉(zhuǎn)變的機(jī)理,結(jié)合聲發(fā)射手段對(duì)損傷過程進(jìn)行檢測(cè)。
聲明:
“遠(yuǎn)紅外納米陶瓷復(fù)合材料無損檢測(cè)方法及其設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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