一種白光中子成像方法,包括步驟:中子源發(fā)射脈沖中子束并記錄發(fā)射時(shí)間;探測(cè)器探測(cè)脈沖中子束得到中子的位置和到達(dá)時(shí)間并傳輸?shù)教幚韱卧?;處理單元根?jù)中子的到達(dá)時(shí)間及記錄的發(fā)射時(shí)間得到中子的能量信息,對(duì)中子按能量分組得到二維中子通量分布重復(fù)上述步驟,得到放置樣品時(shí)的二維中子通量分布根據(jù)的值及能量分組信息生成具有中子能量信息的中子透射圖像。另提出一種無損檢測(cè)材料組成的方法,利用不同角度采集的位置信息重建三維空間信息并結(jié)合能量信息得到空間單元格點(diǎn)的透射信息,將此值與原子核數(shù)據(jù)庫(kù)比對(duì)確定材料的組成。本發(fā)明在無損情況下可精確地確定材料的組成,測(cè)量的中子能量范圍最寬可以覆蓋從eV到百兆eV。
聲明:
“白光中子成像方法及采用其的材料組成無損檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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