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利用高光譜成像技術的無損檢測方法

896   編輯:管理員   來源:中冶有色技術網  
2023-03-19 08:57:44
本發(fā)明涉及無損檢測技術領域,尤其涉及一種基于高光譜成像技術的無損檢測方法。該方法利用高光譜成像系統(tǒng),解決了單一波段范圍內樣品涵蓋信息不全、模型預測穩(wěn)定性差的問題,具有無損、實用性強、適合大規(guī)模檢測的特點。
聲明:
“利用高光譜成像技術的無損檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
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