適于材料科學(xué)和光電子學(xué)領(lǐng)域的透明材料無(wú)損檢測(cè)的光散射層析術(shù)(簡(jiǎn)稱LST法)及其裝置,用高亮度的激光束(如調(diào)Q—YAG的SHG激光束)作入射光源,利用Tyndall現(xiàn)象,為透明材料的無(wú)損檢測(cè)提供更高精度更為方便而適用的觀察方法和檢測(cè)技術(shù)。本技術(shù)對(duì)被測(cè)樣品是無(wú)損的,并且被測(cè)樣品的尺寸不受限制,制樣也非常簡(jiǎn)單,同時(shí),它能提供缺陷的三維分布的直接形貌圖。
聲明:
“透明材料無(wú)損檢測(cè)的光散射層析術(shù)及其裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)