本發(fā)明涉及一種借助至少一個(gè)探測器的無損檢測的模擬方法,其特征在于,其包括以下步驟:–測量檢驗(yàn)參數(shù),尤其是與所述探測器在空間中的位置相關(guān)的參數(shù);且-生成對應(yīng)于無損檢測操作的合成信號。
聲明:
“使用合成信號的真實(shí)條件下無損檢測操作的模擬方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)