本發(fā)明涉及一種基于測(cè)靜磁力的薄板類鐵磁材料中微缺陷的無(wú)損檢測(cè)方法,屬于無(wú)損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。首先將永磁體置于標(biāo)定薄板的表面,使用力傳感器測(cè)定作用于永磁體上的靜磁力的反作用力;其次將永磁體置于待測(cè)薄板的表面,再次使用力傳感器測(cè)定永磁體受到的反作用力;將兩個(gè)反作用力進(jìn)行比較,若相同,則確定待測(cè)薄板上不存在表面缺陷或內(nèi)部缺陷,若不相同,則確定待測(cè)薄板上存在表面缺陷或內(nèi)部缺陷。本方法測(cè)量過(guò)程簡(jiǎn)單,檢測(cè)成本相對(duì)較低,而且檢測(cè)結(jié)果可靠;測(cè)量精度高,可探測(cè)到磁性薄板中微米級(jí)的微缺陷;檢測(cè)速度高,可對(duì)薄板材料進(jìn)行在線、快速、實(shí)時(shí)的檢測(cè)。
聲明:
“基于測(cè)靜磁力的薄板類鐵磁材料中微缺陷的無(wú)損檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)