本發(fā)明公開了一種大型檢件無(wú)損檢測(cè)中缺陷的定位方法,屬于無(wú)損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。該方法,包括步驟:A:對(duì)大型檢件外表面進(jìn)行分塊編號(hào);B:將射線源或超聲波源置入所述的大型檢件中,開啟檢測(cè);C:
分析檢測(cè)結(jié)果圖像,找出缺陷及其方位;D:根據(jù)圖像上的方位標(biāo)注找出缺陷部位隨對(duì)應(yīng)的步驟A中塊編號(hào);E:根據(jù)圖像上的缺陷位置確定大型檢件對(duì)應(yīng)的外表面位置;F:將磁介定位器的放在大型檢件缺陷所對(duì)應(yīng)的外表面位置;G:在大型檢件的內(nèi)部移動(dòng)磁介定位器的另一極,從而確定缺陷所對(duì)應(yīng)的內(nèi)表面位置。本方法大大減少了返修過(guò)程中的作業(yè)誤差和作業(yè)范圍,有利于精益化的開展返修工作。
聲明:
“大型檢件無(wú)損檢測(cè)中缺陷的定位方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)