本發(fā)明公開(kāi)了一種基于X射線的工業(yè)部件缺陷的無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng),包括:X射線成像設(shè)備,其接收穿透待檢工業(yè)部件的X射線,所述X射線成像設(shè)備設(shè)置有相互連接的信號(hào)探測(cè)部件和成像部件;圖像增強(qiáng)部件,其實(shí)時(shí)接收所述X射線成像設(shè)備生成的原始圖像信號(hào),并對(duì)所述原始圖像信號(hào)進(jìn)行信號(hào)加強(qiáng)處理后得到增強(qiáng)圖像信號(hào);圖像采集卡,其與所述圖像增強(qiáng)部件連接;以及圖像工作站,其設(shè)置有相互連接的緩沖部和缺陷識(shí)別部,所述圖像采集卡將采集到的所述增強(qiáng)圖像信號(hào)傳送到所述緩沖部。本發(fā)明解決了現(xiàn)有技術(shù)中缺陷探測(cè)效率低下、可重復(fù)性差、且極易出現(xiàn)差錯(cuò)的技術(shù)問(wèn)題。
聲明:
“基于X射線的工業(yè)部件缺陷的無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)及其檢測(cè)方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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