本發(fā)明是一種非接觸的測量技術,等矢高系數比較法數字化無損檢測系統(tǒng)特別適用于各類寬范圍大曲率半徑的測量。用激光偏振干涉體系產生非接觸的牛頓環(huán),并與CCD圖象處理技術相結合的測量方法,可測量的曲率半徑為1-25米,具有很寬的測量范圍,非接觸測量不會損壞高精度表面,并可測試任意反射率的凹、凸球面,而測試體系結構都非常緊湊。干涉條紋經計算機數據處理可自動、快速獲得測量結果。
聲明:
“等矢高系數比較法數字化無損檢測大曲率半徑檢測系統(tǒng)” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)