一種Y型分子篩
復合材料,其特征在于以X射線衍射方法測量,峰高法的結(jié)晶度為≥60%,且與峰面積法的結(jié)晶度之比為K1、K1=0.76~0.89;以晶胞常數(shù)a
0測定的硅鋁比值為5.0~5.5,且與化學法測定的硅鋁比值之比為K2、K2=0.87~0.93,所述的硅鋁比均為氧化硅與
氧化鋁的摩爾比。該復合材料是通過硅源來改變晶體生長環(huán)境,在晶體成核期和晶體生長期兩個階段采用兩種不同的物料配比的技術手段得到。
聲明:
“Y型分子篩復合材料及其制備方法” 該技術專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)