本發(fā)明涉及精密工程領域,提供了一種點樣儀。所述點樣儀包括控制組件、微流體組件和測序反應小室;所述控制組件控制微流體組件傳輸試劑;所述微流體組件用于將試劑傳輸?shù)綔y序反應小室中;所述測序反應小室包括至少一個點樣腔;所述測序反應小室的內(nèi)表面經(jīng)過物理或化學處理。本發(fā)明提供的點樣儀能夠實現(xiàn)全自動化高質(zhì)量的點樣。
聲明:
“點樣儀” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)