本發(fā)明涉及金屬鹵化物
鈣鈦礦材料領(lǐng)域,具體涉及一種調(diào)整混合鹵素鈣鈦礦帶隙的方法及其應(yīng)用。該方法為:將金屬鹵化物鈣鈦礦晶體溶解于溶劑中制備成待測液,采用電位滴定法測定待測液中鹵素含量,計(jì)算出帶隙寬度,再與計(jì)算的最優(yōu)帶隙值進(jìn)行比較,依據(jù)比較結(jié)果對鹵素的比例進(jìn)行調(diào)整,直至獲得最佳帶隙寬度。該方法是本領(lǐng)域內(nèi)首次直接通過檢測鈣鈦礦晶體中的鹵素比例來調(diào)控帶隙寬度,也是首次基于
電化學(xué)中的電位滴定法測定混合鹵素鈣鈦礦中的鹵素含量,利用該方法可準(zhǔn)確測定出晶體中鹵素離子的相對含量,從而使金屬鹵化物鈣鈦礦中光學(xué)帶隙的調(diào)整更為精確。
聲明:
“調(diào)整混合鹵素鈣鈦礦帶隙的方法及應(yīng)用” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)