本發(fā)明提供了一種基于紅外光譜的樣品識(shí)別方法、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì),所述樣品識(shí)別方法包括以一系列標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的紅外光譜為基礎(chǔ),建立物質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)譜庫(kù),標(biāo)準(zhǔn)譜庫(kù)里的每條光譜數(shù)據(jù)稱為標(biāo)準(zhǔn)光譜;構(gòu)造一系列測(cè)試樣本,對(duì)測(cè)試樣本進(jìn)行紅外光譜掃描,提取測(cè)試樣本的每條光譜數(shù)據(jù)作為測(cè)試光譜;計(jì)算測(cè)試光譜和標(biāo)準(zhǔn)光譜的加權(quán)相關(guān)系數(shù),根據(jù)加權(quán)相關(guān)系數(shù)設(shè)置相似區(qū)間,建立紅外光譜識(shí)別模型;對(duì)待測(cè)樣品進(jìn)行紅外光譜掃描,獲得待測(cè)樣品的光譜數(shù)據(jù);將光譜數(shù)據(jù)輸入到紅外光譜識(shí)別模型中對(duì)待測(cè)樣品進(jìn)行識(shí)別。本發(fā)明的樣品識(shí)別方法采用紅外光譜技術(shù),與質(zhì)譜等儀器相比,不使用化學(xué)試劑,綠色環(huán)保,識(shí)別模型中應(yīng)用加權(quán)相關(guān)系數(shù),識(shí)別精確度高,檢測(cè)效率高。
聲明:
“基于紅外光譜的樣品識(shí)別方法、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)