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銻化鎵晶片雙面拋光方法

662   編輯:管理員   來源:中冶有色技術網(wǎng)  
2023-03-19 07:54:09
一種銻化鎵晶片雙面拋光方法,它包括以下步驟:晶片測厚分組;晶片初次清洗;粘片;背面拋光;卸片;粘片及正面拋光;晶片二次清洗;將經過雙面拋光的晶片放在用清洗液和純水配制成體積比1∶(3~10)的溶液中用超聲波清洗,清洗溫度為50~100℃,清洗時間為10~30分鐘,而后用純水沖洗;化學腐蝕:用CH3COOH、H2O、HF以體積比(10~30)∶(5~15)∶1的比例配制成腐蝕液;檢驗包裝。采用本方法可批量加工銻化鎵(100)雙面拋光片,方法簡單實用,可操作性強,拋光成品率達到90%。同時緩解了銻化鎵晶片拋光后氧化的問題。通過該方法拋光所得銻化鎵拋光晶片翹曲度不大于20μm,晶面平整度不大于4μm,表面粗糙度達到0.1~0.2μm,晶片總厚度變化不大于5μm,拋光片未檢測到沾污、霧、劃道、顆粒、裂、橘皮、鴉爪等缺陷。
聲明:
“銻化鎵晶片雙面拋光方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
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