硅片表面鈍化方法,涉及太陽能
光伏硅片檢測技術領域,包括:將清洗后的硅片放入化學拋光液中,進行化學拋光以去除硅片表面損傷層,其中拋光液的配比為氫氟酸:硝酸=1:3~6;2~5分鐘后從拋光液中取出用去離子水漂洗干凈;將拋光后的硅片放入塑料自封袋中,用滴管吸取配制好的鈍化液滴入裝有硅片的自封袋中,同時將鈍化液均勻地灘涂在硅片表面,其中鈍化液的配比為高純固體碘:無水酒精=1g:50~100ml;10~20分鐘后放入WT-2000少子壽命測試儀中進行測試,少子壽命會有明顯提升。本發(fā)明的有益效果是:解決了硅片少子壽命測量誤差偏大導致質量誤判的問題,硅片表面鈍化可以有效地降低表面少子壽命復合率,少子壽命提高10~30倍,真實的反應出硅片的質量。
聲明:
“硅片表面鈍化方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)