本發(fā)明提出了由電子衍射花樣進(jìn)行物相識(shí)別的新方法,可用于已知化學(xué)組分但不能確定其晶體結(jié)構(gòu)的材料的物相識(shí)別,尤其適用于難以獲得多張衍射花樣的場(chǎng)合。本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)為:只需要記錄一張含高階勞厄衍射環(huán)的帶軸電子衍射花樣或者在同一待測(cè)晶體的晶粒上記錄一張零階勞厄衍射點(diǎn)花樣和一張對(duì)應(yīng)的高階勞厄衍射環(huán)花樣,雖然不能完全確定待測(cè)晶體的布拉菲格子,但利用所測(cè)量的高階勞厄衍射環(huán)的半徑和初基原胞體積與目標(biāo)結(jié)構(gòu)的計(jì)算結(jié)果比對(duì),不僅能提高指標(biāo)化的準(zhǔn)確性,還能有效過濾不滿足條件的備選物相,大大提高了物相分析的準(zhǔn)確性;在實(shí)際的電鏡實(shí)驗(yàn)和數(shù)據(jù)分析中,明顯提高工作效率。
聲明:
“利用電子衍射進(jìn)行物相識(shí)別的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)