一種用于材料分析測試技術(shù)領(lǐng)域的X射線衍射樣品架的制備方法,具體步驟如下:(1)材料選擇:樣品架選擇單晶材料,利用晶體分析儀及勞厄衍射技術(shù)確定單晶的密排晶體學(xué)平面;(2)切割單晶樣品架毛坯:與單晶密排晶體學(xué)面偏離角度,切割出單晶片以及樣品架毛坯;(3)化學(xué)腐蝕樣品座:利用氫氟酸溶液,腐蝕樣品架毛坯表面,腐蝕出凹坑,同時(shí)利用隔絕材料聚乙烯,將樣品座以外區(qū)域與腐蝕溶液隔絕;(4)單晶樣品架與金屬片粘結(jié):利用環(huán)氧樹脂,將單晶樣品架與金屬片進(jìn)行復(fù)合,獲得X射線衍射樣品架。本發(fā)明所制備的X射線衍射樣品架,用于X射線衍射系統(tǒng),對(duì)被測樣品衍射信息不產(chǎn)生任何干擾,提高測量結(jié)果的可靠性,克服容易脆裂的缺點(diǎn),延長其使用壽命。
聲明:
“X射線衍射樣品架的制備方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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