本發(fā)明提供了一種篩查DNA甲基化修飾相關基因的方法,屬于DNA檢測技術領域。本發(fā)明利用單基因缺失型突變體生物材料,采用化學發(fā)光酶聯(lián)免疫法檢測基因組DNA鏈中的堿基甲基化水平,通過比較基因缺失型突變體與其同源正常對照組細胞中基因組DNA的甲基化水平,分析突變體中缺失基因與DNA堿基甲基化修飾的關系,篩選出與DNA甲基化修飾相關的基因。該方法既具有對DNA中甲基化堿基的檢測特異性,又具有極高的檢測靈敏度。本發(fā)明操作步驟簡便,成本較低,穩(wěn)定性強,無需大型昂貴設備,可同時檢測多個樣本。
聲明:
“篩查DNA甲基化修飾相關基因的方法” 該技術專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)