本文中呈現(xiàn)的是實(shí)現(xiàn)使用電子測(cè)試源對(duì)液體閃爍計(jì)數(shù)器LSC的校準(zhǔn)和/或測(cè)試的系統(tǒng)和方法。在某些實(shí)施例中，本文中所描述的所述電子測(cè)試源實(shí)現(xiàn)模擬由于各種各樣的不同的種類的放射性發(fā)射器(例如，貝塔、阿爾法和伽瑪發(fā)射器)的放射性衰變通過(guò)閃爍劑產(chǎn)生的光脈沖的模擬放射性事件測(cè)試脈沖的發(fā)射。另外，在某些實(shí)施例中，本文中所描述的系統(tǒng)和方法實(shí)現(xiàn)來(lái)自所述電子測(cè)試源的模擬背景光(例如，發(fā)光和余脈沖)的發(fā)射。所述模擬放射性事件測(cè)試脈沖且任選地模擬背景光可用于LSC的所述校準(zhǔn)和/或測(cè)試，代替危險(xiǎn)的放射性材料和/或易失性化學(xué)物質(zhì)。因此，本文中所描述的系統(tǒng)和方法顯著地改進(jìn)液體閃爍計(jì)數(shù)器的所述校準(zhǔn)和/或測(cè)試。