本發(fā)明公開了一種基于彩色相機(jī)的高溫溫度場(chǎng)分布測(cè)試裝置和方法，包括光學(xué)部分、電學(xué)部分和軟件部分；光學(xué)部分包括衰減濾光片組和光學(xué)鏡頭；電學(xué)部分包括彩色相機(jī)、數(shù)據(jù)線和計(jì)算機(jī)；衰減濾光片組、光學(xué)鏡頭和彩色相機(jī)依次螺紋連接；彩色相機(jī)與計(jì)算機(jī)電連；待測(cè)高溫目標(biāo)發(fā)出光輻射，經(jīng)衰減濾光片組衰減和濾波，彩色相機(jī)上的感光芯片CCD或CMOS，按照R、G、B三基色，將相應(yīng)波段的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成電信號(hào)，傳輸?shù)接?jì)算機(jī)，經(jīng)軟件部分解析出待測(cè)高溫目標(biāo)的溫度場(chǎng)分布。本發(fā)明的測(cè)試結(jié)果，受待測(cè)目標(biāo)狀態(tài)、表面粗糙程度、表面化學(xué)特性等因素影響小，能夠?qū)崿F(xiàn)高溫溫度場(chǎng)分布的高準(zhǔn)確度測(cè)試，實(shí)時(shí)精確反應(yīng)待測(cè)目標(biāo)的溫度場(chǎng)特性。