一種測(cè)定ZSM?22分子篩中白硅石相含量的X射線衍射方法,包括如下內(nèi)容:a、將預(yù)處理的待測(cè)ZSM?22分子篩樣品與硅相標(biāo)樣混合,并且濕法研磨,得待測(cè)混合試樣;白硅石相標(biāo)樣和相同質(zhì)量的所述硅相標(biāo)樣混合,并且濕法研磨,得待測(cè)混合標(biāo)樣;b、用X射線衍射儀分別測(cè)定并收集所述待測(cè)混合試樣和所述待測(cè)混合標(biāo)樣的粉末X射線衍射數(shù)據(jù)各兩套;c、采用X射線衍射數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)軟件中的PearsonⅦ化學(xué)計(jì)量學(xué)分峰程序,獲得每個(gè)試樣中白硅石相(101)晶面和硅相(111)晶面峰面積強(qiáng)度計(jì)數(shù)值并求其平均值,用K值法計(jì)算待測(cè)ZSM?22分子篩樣品中白硅石相的含量。
聲明:
“測(cè)定ZSM-22分子篩中白硅石相含量的X射線衍射方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)