根據(jù)本公開的電位測量裝置包括多個讀出電極,其以陣列形狀布置并且配置為檢測由于化學(xué)變化產(chǎn)生的電位生成點處的電位;和參考電極,其配置為檢測參考電位。該參考電極布置在該讀出電極的陣列內(nèi)部。在這個配置下,其中獲得其中可以降低疊加在從每個讀出電極至放大器的配線上的噪聲和疊加在從該參考電極至該放大器的配線上的噪聲的低噪聲電位測量裝置。
聲明:
“電位測量裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)