本發(fā)明屬于化學物質檢測技術領域,利用分光瞳設計,有效屏蔽激發(fā)光路中光學元件自發(fā)熒光對結果的干擾,提高系統(tǒng)的信噪比。此外,將共焦物體表面定位技術和分立熒光光譜和熒光壽命測量技術相融合;利用共焦技術實現(xiàn)待測樣品表面三維形貌的高精度測量,同時利用分立熒光光譜及熒光壽命探測技術實現(xiàn)待測樣品表面各點的熒光光譜及熒光壽命的高靈敏度檢測,進而得到三維高分辨空間物質成分分布信息。并且在樣品表面的熒光信息測量過程中,本發(fā)明使用了多種不同的分立熒光探測手段,包括熒光光譜檢測和熒光壽命檢測。本發(fā)明在生物學,醫(yī)學,材料科學以及臨床醫(yī)學診斷領域具有廣泛的應用前景。
聲明:
“分光瞳共焦分立熒光光譜及熒光壽命探測方法與裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)