本發(fā)明涉及基于雙光子計(jì)數(shù)器寬線性范圍的光子測(cè)量系統(tǒng),屬于光學(xué)檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,被測(cè)物發(fā)出的光經(jīng)導(dǎo)光棒入射至分光裝置的分光膜,經(jīng)分光膜透射的透射光入射至測(cè)低值光子計(jì)數(shù)器,經(jīng)分光膜反射的反射光經(jīng)過(guò)光闌和衰減片后入射至測(cè)高值光子計(jì)數(shù)器,計(jì)算處理裝置判斷測(cè)高值光子計(jì)數(shù)器輸出的第一測(cè)值是否大于閾值,閾值為測(cè)低值光子計(jì)數(shù)器的線性最高點(diǎn)對(duì)應(yīng)的測(cè)高值光子計(jì)數(shù)器的光子數(shù),若是,則計(jì)算處理裝置輸出光子探測(cè)值,光子探測(cè)值為第一測(cè)值與分光膜的分光比的乘積。本發(fā)明利用測(cè)低值光子計(jì)數(shù)器和測(cè)高值光子計(jì)數(shù)器相結(jié)合,實(shí)現(xiàn)微弱光相對(duì)光強(qiáng)的寬線性范圍探測(cè),從而滿足化學(xué)發(fā)光免疫分析領(lǐng)域或者其他光能量探測(cè)等領(lǐng)域所需的寬線性范圍測(cè)量的需求。
聲明:
“基于雙光子計(jì)數(shù)器寬線性范圍的光子測(cè)量系統(tǒng)” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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