本發(fā)明公開了一種測定螢石中氟化鈣、碳酸鈣、硫、鐵及二氧化硅含量的方法,將數個校準樣品、待測螢石樣品制備成粉末壓片樣品,用X射線熒光光譜分析儀測定壓片樣品中F、Si、Ca、Fe、S元素的熒光強度,繪制校準曲線,將待測螢石粉末樣片中的F、Si、Ca、Fe、S元素的熒光強度與校準曲線進行比較計算出F、Si、Ca、Fe、S元素的質量百分比含量,再計算出CaF2、CaCO3及SiO2的質量百分比含量;樣品中的各元素含量與化學法分析結果一致,誤差都控制在0.6%以內,精密度、準確度及穩(wěn)定性都能滿足生產質量檢測要求。本方法即能夠避免氟元素的損失,又可以避免螢石熔融過程中對鉑金坩堝的腐蝕。
聲明:
“測定螢石中氟化鈣、碳酸鈣、硫、鐵及二氧化硅含量的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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