本發(fā)明涉及經(jīng)修飾以促進(jìn)在納米孔裝置中檢測的靶分子。本發(fā)明進(jìn)一步涉及使用納米孔裝置檢測這種經(jīng)修飾的靶分子的方法。它還公開了使用這種經(jīng)修飾的靶分子用于追蹤和驗(yàn)證藥物、化學(xué)或生物產(chǎn)品并測量包含所述經(jīng)修飾的靶分子的樣品的各種條件的方法。
聲明:
“用于追蹤和檢測的靶修飾” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)