本發(fā)明提供一種具有陣列式接點(diǎn)的檢測(cè)試片，包括一基板，及位于基板上的一電化學(xué)檢測(cè)區(qū)、一訊號(hào)識(shí)別區(qū)、一絕緣層、至少一訊號(hào)電極及一電阻元件。其通過數(shù)字訊號(hào)識(shí)別區(qū)中導(dǎo)通及未導(dǎo)通的數(shù)字訊號(hào)電極，以產(chǎn)生2(N*M-1)或2(N*M-2)組不同的數(shù)字識(shí)別訊號(hào)，以及通過一電阻元件的不同電阻值的變化設(shè)計(jì)，以產(chǎn)生K組不同的模擬識(shí)別訊號(hào)，因此可取得K*2(N*M-1)或K*2(N*M-2)組不同的識(shí)別訊號(hào)，來達(dá)到制作大量編碼資訊的目的。由此本發(fā)明即可提供多組不同的識(shí)別訊號(hào)，不僅可供不同客戶、檢測(cè)裝置或檢測(cè)試片使用，又可使效期內(nèi)生產(chǎn)的檢測(cè)試片具有足夠的生產(chǎn)批號(hào)而不會(huì)重復(fù)的優(yōu)勢(shì)。