本發(fā)明提供了一種玻璃微流控
芯片的質(zhì)量檢測(cè)方法,其特征在于:包括對(duì)玻璃微流控芯片通道的橫截面輪廓測(cè)定、表面光潔度測(cè)定、表面電荷分布測(cè)定和化學(xué)性質(zhì)確定。本發(fā)明提供了一種玻璃微流控芯片的質(zhì)量檢測(cè)方法的優(yōu)點(diǎn)在于:首次全面、客觀、準(zhǔn)確的對(duì)玻璃微流控芯片的產(chǎn)品質(zhì)量進(jìn)行了監(jiān)控,從而避免了以往在玻璃微流控芯片的生產(chǎn)使用過(guò)程中,由于產(chǎn)品評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)的缺乏所造成的混亂局面;對(duì)出自不同廠(chǎng)家的玻璃微流控芯片進(jìn)行產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)的理想方法并,可成為行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。
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“玻璃微流控芯片的質(zhì)量檢測(cè)方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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