本公開提供了用于實(shí)現(xiàn)定制化異常檢測(cè)的方法和裝置。可以獲得包括多個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)的時(shí)序數(shù)據(jù)??梢岳卯惓z測(cè)模型對(duì)所述時(shí)序數(shù)據(jù)執(zhí)行異常檢測(cè)。可以接收與所述時(shí)序數(shù)據(jù)中的至少一個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)的異常檢測(cè)結(jié)果相關(guān)聯(lián)的反饋。可以通過強(qiáng)化學(xué)習(xí),至少基于所述反饋來(lái)更新所述異常檢測(cè)模型。
聲明:
“定制化異常檢測(cè)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)