本發(fā)明公開了一種電催化化學(xué)腐蝕原奧氏體晶粒的方法,包括以下步驟:制備特定的化學(xué)腐蝕液,采用三電極測試體系的
電化學(xué)工作站,將待腐蝕樣品作為工作電極,鉑電極為輔助電極,飽和甘汞電極為參比電極。采用線性電壓掃描或恒流掃描的方法進行催化腐蝕原奧氏體晶粒。該方法具有操作簡單,腐蝕效率高,無有毒氣體產(chǎn)生等優(yōu)點。
聲明:
“電催化化學(xué)腐蝕原奧氏體晶粒的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)