本發(fā)明公開了一種對電化學(xué)裝置內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)進(jìn)行標(biāo)記的方法，該方法用于模擬計算電化學(xué)裝置的電化學(xué)性能，先獲取電化學(xué)裝置的至少部分區(qū)域的正極顆粒，負(fù)極顆粒，隔膜，正極導(dǎo)電劑,負(fù)極導(dǎo)電劑和電解質(zhì)的幾何分布狀態(tài)信息，再基于獲取的幾何分布狀態(tài)信息，生成二維或三維圖形，然后基于生成的圖形，利用網(wǎng)格生成軟件生成背景網(wǎng)格，再通過網(wǎng)格節(jié)點(diǎn)標(biāo)記負(fù)極顆粒，正極顆粒，隔膜，正極導(dǎo)電劑，負(fù)極導(dǎo)電劑和電解質(zhì)的邊界或者其覆蓋區(qū)域，最后獲取至少部分標(biāo)記節(jié)點(diǎn)的坐標(biāo)信息；還包括實(shí)現(xiàn)上述方法的裝置。通過上述步驟對電池內(nèi)部進(jìn)行標(biāo)記，獲取網(wǎng)格節(jié)點(diǎn)坐標(biāo)信息，代入電化學(xué)模型后，比其他標(biāo)記方式能得到較為精確的預(yù)測電池性能，且計算效率更為高效。