本發(fā)明涉及一種用于組合材料
芯片的高通量
電化學(xué)表征的裝置及方法。測試儀器包括絲束電極、絲束電極電流電位掃描儀、具有成分梯度分布的薄膜樣品以及特定的腐蝕介質(zhì)。采用絲束電極電流電位掃描儀中的絲束電極測量方法得到絲束電極每個(gè)探針的電極電位以及電流,從而可以比較薄膜樣品表面不同區(qū)域的電位分布和電流分布,最終得到待測樣品表面的局部電化學(xué)參數(shù)信息。這種測量方法具有操作簡單、能夠同時(shí)完成多區(qū)域的并行測量,因此可以大大提升電化學(xué)信息的表征速度,為材料的防蝕性能評價(jià)提供一種快速的篩選方法。
聲明:
“用于組合材料芯片的高通量電化學(xué)表征的裝置及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)