本發(fā)明涉及在樣品中測(cè)定分析物的方法。該方法包括以下步驟：將樣品暴露于具有熱釋電或壓電元件和電極、能夠?qū)⒛芰扛淖冝D(zhuǎn)換成電信號(hào)的轉(zhuǎn)換器，該轉(zhuǎn)換器具有至少一種與其靠近的試劑，該試劑具有能夠結(jié)合分析物或分析物的絡(luò)合物或衍生物的結(jié)合位點(diǎn)，其中分析物或分析物的絡(luò)合物或衍生物的至少之一具有與其連接的標(biāo)記，該標(biāo)記能夠吸收由輻射源產(chǎn)生的電磁輻射以通過(guò)非輻射性衰減產(chǎn)生能量；用一系列電磁輻射脈沖照射該試劑，將產(chǎn)生的能量轉(zhuǎn)換成電信號(hào)，測(cè)定該電信號(hào)以及各來(lái)自輻射源的電磁輻射脈沖和電信號(hào)的產(chǎn)生之間的時(shí)間延遲。各電磁輻射脈沖和電信號(hào)的產(chǎn)生之間的時(shí)間延遲對(duì)應(yīng)于在自轉(zhuǎn)換器表面不同距離的任何一個(gè)或多個(gè)位置處的分析物的位置。所述標(biāo)記是包含聚吡咯或其衍生物的納米顆粒。本發(fā)明還提供適于實(shí)施該方法的試劑盒。