本發(fā)明涉及用于在鉆石內(nèi)生成圖像的方法,該圖像攜帶用于各種目的的信息,例如,識(shí)別碼,識(shí)別鉆石的標(biāo)記。所要求保護(hù)的發(fā)明的技術(shù)問(wèn)題是消除原型的缺點(diǎn),即增加在鉆石內(nèi)部生成透光圖像并隨后對(duì)其進(jìn)行檢測(cè)的可靠性,同時(shí)簡(jiǎn)化了圖像的生成過(guò)程,從而實(shí)現(xiàn)以下技術(shù)結(jié)果:增加在鉆石內(nèi)生成透光圖像及其檢測(cè)的準(zhǔn)確性。所述技術(shù)結(jié)果是通過(guò)用于在鉆石內(nèi)部生成透光圖像的方法實(shí)現(xiàn)的,其中在鉆石表面下生成所述圖像,該圖像由給定組的微米或亞微米尺寸的透光元素構(gòu)成,上述透光元素會(huì)干擾鉆石晶體結(jié)構(gòu)的周期性,其中在鉆石中生成圖像,該圖像是由給定組的微米或亞微米大小的透光元素組成的標(biāo)記,這些元素會(huì)干擾鉆石晶體結(jié)構(gòu)的周期性,在空位和間隙形成的雜質(zhì)的化學(xué)元素參與到微米或亞微米大小的體積中,其中通過(guò)用聚焦在聚焦區(qū)處的光輻射處理鉆石來(lái)干擾鉆石晶體結(jié)構(gòu)的周期性,聚焦區(qū)位于鉆石晶體周期性干擾的預(yù)期分布區(qū)域中,提供超短輻射脈沖,在指定的聚焦區(qū)中的空位和間隙處形成給定的微米或亞微米大小的透光元素集,同時(shí)在指定的聚焦區(qū)提供低于閾值通量的積分通量,在該閾值通量下鉆石局部轉(zhuǎn)化為石墨或其他非鉆石形式的碳,或者在晶體中形成開(kāi)裂,裂口。所述技術(shù)結(jié)果還通過(guò)用于通過(guò)光的偏振的局部旋轉(zhuǎn)來(lái)檢測(cè)鉆石內(nèi)部的透光圖像的方法來(lái)實(shí)現(xiàn),以及通過(guò)組合(拉曼)散射畸變或通過(guò)天然雜質(zhì)的發(fā)光光譜的局部畸變來(lái)檢測(cè)鉆石內(nèi)部的透光圖像的方法來(lái)實(shí)現(xiàn),以及通過(guò)這些方法來(lái)執(zhí)行檢測(cè)的系統(tǒng)來(lái)實(shí)現(xiàn)。
聲明:
“在鉆石內(nèi)部生成和檢測(cè)可透光圖像的方法及檢測(cè)系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)