本發(fā)明屬于分析化學領(lǐng)域,涉及一種測量聚合物中超痕量放射性本底的檢測方法。本發(fā)明采用干灰化法的前處理方式,建立了ICP?MS測量超痕量放射性本底的分析方法,實現(xiàn)了有機玻璃中超痕量元素的分析。本發(fā)明的檢測方法檢出限可達1pg/g以下,此外,本發(fā)明的方法還具有操作簡單、快速、準確的優(yōu)勢。
聲明:
“測量聚合物超痕量放射性本底的檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)